3D AOI 在可見表面建立高度數據，用於評估引腳翹起、器件浮高和相對共面性。量測結果依賴基準面、反射特性、遮擋和校準狀態；機器人相機輸出的抓取位姿不是 AOI 的缺陷判定結果。
怎樣驗證
先定義量測基準與公差，檢查高器件遮擋、板彎和鍍層反光。用標準件及重複測量評價重複性，再以產線實際板型驗證誤報、漏檢與節拍。芯片劃片和裸晶檢測需要獨立確認成像分辨率及上下料方案。
項目評估清單
- 定義工件、可見檢測面和最小缺陷；把外觀、內部結構與電氣／功能檢查分開。
- 準備已確認的良品、真實不良和邊界樣本，覆蓋多個批次；訓練與驗收樣本分開。
- 按缺陷類別統計漏檢與誤報，記錄復判量、整板／整工位節拍及重複性。
- 確認程序版本、權限、數據保留和追溯字段；試產通過後再批准上線。