3D AOI 在可见表面建立高度数据，用于评估引脚翘起、器件浮高和相对共面性。量测结果依赖基准面、反射特性、遮挡和校准状态；机器人相机输出的抓取位姿不是 AOI 的缺陷判定结果。
怎样验证
先定义量测基准与公差，检查高器件遮挡、板弯和镀层反光。用标准件及重复测量评价重复性，再以产线实际板型验证误报、漏检与节拍。芯片划片和裸晶检测需要独立确认成像分辨率及上下料方案。
项目评估清单
- 定义工件、可见检测面和最小缺陷；把外观、内部结构与电气／功能检查分开。
- 准备已确认的良品、真实不良和边界样本，覆盖多个批次；训练与验收样本分开。
- 按缺陷类别统计漏检与误报，记录复判量、整板／整工位节拍及重复性。
- 确认程序版本、权限、数据保留和追溯字段；试产通过后再批准上线。