挑戰與方案
BGA / QFN 隱藏焊點 3D 檢測
挑戰傳統平面光學檢測無法穿透封裝盲區,只能依賴抽檢 X-ray,成本高、耗時長、覆蓋率有限。
方案微鏈道愛 DaoAI —— 3D AI-AOI 三維成像穿透封裝盲區,X-ray 僅保留給疑難件複核,大幅降低檢測成本與耗時。
99%+綜合檢出率
80%後段不良率降幅
+30pp檢出率提升(70%→99%)
電子 / PCBA · 應用場景 · APPLICATION
BGA、QFN 等底部端子封裝的焊點天然被晶片本體遮擋,是電子製造中最難看清的缺陷類型之一。
場景 · BGA / QFN 空洞與橋連
挑戰與方案
挑戰傳統平面光學檢測無法穿透封裝盲區,只能依賴抽檢 X-ray,成本高、耗時長、覆蓋率有限。
方案微鏈道愛 DaoAI —— 3D AI-AOI 三維成像穿透封裝盲區,X-ray 僅保留給疑難件複核,大幅降低檢測成本與耗時。
推薦機型:2D AI AOI · 3D AI AOI · AOI 軟體
檢視完整案例 → BGA/QFN 隱藏焊點的 3D AI 檢測:精準洞察空洞、橋連、不潤溼缺陷
本文由人工智慧生成。文中客戶案例為基於產品真實能力的模擬場景,成效數字為示例性質;官方標定口徑以產品頁為準。
常見問題 · FAQ
傳統平面光學檢測無法穿透封裝盲區,只能依賴抽檢 X-ray,成本高、耗時長、覆蓋率有限。
微鏈道愛 DaoAI —— 3D AI-AOI 三維成像穿透封裝盲區,X-ray 僅保留給疑難件複核,大幅降低檢測成本與耗時。
在實際產線案例中,綜合檢出率達到 99%+,後段不良率降低 80%,檢出率提升(70%→99%)達到 +30pp(案例為基於產品真實能力的模擬場景,成效數字為示例性質,具體以實測為準)。
BGA / QFN 隱藏焊點 3D 檢測的費用因產線規模、檢測點位數量與部署方式(雲端/邊緣/本地化)而異,不同客戶配置差異較大,暫不提供統一報價單;可預約 Demo 獲取針對性報價與實施週期評估。