挑战与方案
半导体封装裂纹检测
挑战传统检测漏检率约 3%，误报率高达 40%，复检占用大量产能。
方案自研 3D 相机结合三维形貌重建与深度学习特征提取，语义误报过滤降低无效复检。
99.2%检出率
-70%误报率
5min换型耗时(原30min)
半导体 / 芯片 · 应用场景 · APPLICATION
半导体封装裂纹检测
封装体表面与边缘的裂纹、分层会影响芯片电气性能，严重时导致整体失效。
场景 · 封装裂纹与分层
半导体封装裂纹检测
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本文由人工智能生成。文中客户案例为基于产品真实能力的模拟场景，成效数字为示例性质；官方标定口径以产品页为准。